タイトルまたは説明

I. Commodity: Energy Dispersive X-Ray Fluorescence Spectrometer System (1Set)                   Instrument: EDX****0                       Application: Energy Dispersive X-Ray Fluorescence Spectrometer System  for multi-element-analysis of alloy and plating thickness analysis. II. Features 1. High performance-High efficiency precision X-Ray Fluorescence [XRF] analyzer. 2. Computer/MCA(Multi Channel Analyzer) 2 separate ***8 MCA with DPP (Digital Pulse Processor). 3. Smart-Ray. FP software module to create Quantitative, Qualitative analysis application  without standards using Fundamental Parameter calculation method. Simple three step  mode to create a new application without standards. Create user selected elements  Quantitative or Qualitative analysis application 4. Full statistical functions with mean value, standard deviation, low/high reading, trend line, Cp and Cpk factors etc.. l X-ray tube : High stability and long life  (working >min, *0,**0 hour) X-ray tube, Anode material Rh (Mo, W optional) target Air cooled, radiation safe tube shielding.  ****0KV, max, 1mA current software controlled. The high voltage and current setting is optimized to give best performance on application. Temperature sensor HV-cable generator-tube

 HV generator l Supply power to X-Ray tube l Voltage: 1 to *0kV, adjustable in 1kV-steps l Current: 1 to ***0µA, adjustable in *0 µA-steps l Power: *0W maximum, PC-controlled tube parameters

Sample chamber
 
 

PIN-Diode Si Detector
l Peltier-cooled Si semi-conductor detector (PIN-diode detection system) l *5mm2 active area, ≥**0µm thick., Be-entrance window, l Plastic-coated against aggressive media, Effective thickness 4mm l Energy resolution better **9eV for Mn-Kα() l Pulsed preamplifier l No need LN2 cooled Gas

  l Internal chamber sizes: **0mm x **0mm x 54mm  slotted door l Radiation protection