タイトルまたは説明

Main Features Of Thickness Gauge XY-260

1.Can equipped with various double crystal probes of different frequency and different 
wafer size.
2.With functions of the probe zero calibration,automatically correcting errors of the 
system.
3.Of known thickness can be measured speed of sound, in order to improve the measurement accuracy.
4.With EL backlit, convenient use in dim light.
5.With RS232 interface and can be easily and quickly exchange data with PC, can be 
connected to the micro printer.
 
Technical Parameters